Apžvalga:

Crush yra labaitipiškasbandymas, skirtas patikrinti c saugąells, imituojant c suspaudimo susidūrimąellsarba galutinis produktasskasdieniniame naudojime. Paprastai yra dviejų tipųsutraiškytitestai: plokštisutraiškytiir dalinissutraiškyti. Palyginti su butusutraiškyti, dalinisįdubimasSukeltas sferinės ar cilindrinės įdubos, labiau tikėtina, kadląstelė neveiksmingas. Kuo staigesnė įduba, tuo labiau koncentruojamas įtempis ličio baterijos pagrindinei struktūrai, tuo rimtesnis vidinio akumuliatoriaus plyšimas.šerdis, o tai sukels šerdies deformaciją ir pasislinkimą ir netgi sukels rimtų pasekmių, tokių kaip elektrolito nutekėjimas ar net gaisras. Taigi kaip veikiasutraiškytiveda įišjungimascell? Čiasupažindins jus su vidinės šerdies struktūros raida atliekant vietinį ekstruzijos testą.

Sutraiškytiprocesas:

• Suspaudimo jėga pirmiausia paveikiama elementų gaubtą, o gaubtas deformuojasi. Tada jėga perkeliama į akumuliatoriaus vidų, o elementų mazgas taip pat pradeda deformuotis.
• Toliau suspaudžiant smulkinimo galvutę, deformacija plečiasi ir formuojasi lokalizacija. Tuo pačiu metu sluoksnių atstumas tarp kiekvieno elektrodo sluoksnio palaipsniui trumpinamas. Nuolat spaudžiant srovės kolektorius išlinksta ir deformuojasi, susidaro šlyties juostos. Kai elektrodo medžiagos deformacija pasieks ribą, elektrodo medžiaga sukels įtrūkimus.
• Didėjant deformacijai, įtrūkimas palaipsniui tęsiasi iki srovės kolektoriaus, kuris bus plyšęs ir sukels plastiškumą. Be to, radialinis įtrūkimas pailgėja dėl įtempių padidėjimo ir radialinio poslinkio.
• Šiuo metu ekstruzijos jėga ir toliau spaudžia elementą, todėl daugiau elektrodų sluoksnių deformuojasi, dėl to plečiasi šlyties zona, pasikeičia pasvirimo kampas (45°) ir toliau plečiasi šlyties zonos diapazonas.
• Galiausiai, toliau tempiant ir sukant diafragmą, įtrūkimai tęsiasi iki diafragmos. Pasiekus išjungimo tašką, diafragma plyšta ir susiliečia šalia esantys elektrodai, sudarydami vidinį trumpąjį jungimą. Šiuo metu trumpojo jungimo taške sukuriama didelė trumpojo jungimo srovė, sukelianti intensyvų kaitinimą ir greitą temperatūros kilimą, o tai sukels šalutines reakcijas ląstelėje ir galiausiai gali atsirasti terminis piktnaudžiavimas.

Santrauka:

Suspaudimo testas yra tam tikras mechaninis piktnaudžiavimas. Mechaninis piktnaudžiavimas yra neišvengiamas saugos pavojus kasdien naudojant ličio jonų baterijas, dėl kurių gali plyšti diafragma ir sukelti vidinį trumpąjį jungimą. Tačiau dėl gniuždymo galvutės formos, gniuždymo slėgio dydžio ir pačios ląstelės stiprumo skiriasi, suspaudimo bandymo rezultatai dažnai labai skiriasi. Būtina optimizuoti ląstelės medžiagą arba struktūrą, kad būtų išvengta ląstelės deaktyvavimo, kurį sukelia gniuždymo bandymas. Pavyzdžiui, naudojant saugesnę, lankstesnę diafragmą arba pagerinus elemento šilumos išsklaidymo efektyvumą, galima labai išvengti piktnaudžiavimo terminiu, kai įvyksta vidinis trumpasis jungimas.